문서의 임의 삭제는 제재 대상으로, 문서를 삭제하려면 삭제 토론을 진행해야 합니다. 문서 보기문서 삭제토론 정전기 방전 (문단 편집) === TEST 방법 === 국제 표준 통과를 위해서는 시험 기관[[https://www.qrtkr.com/html/ko/te_esd.asp|#]]에 의뢰를 하거나, 자체적으로 Test를 진행하는 방법이 있다. 자체적으로 진행하는 경우 TEST 회로를 구성한 뒤 ESD Surge를 Input으로 하였을 때 제품의 Output으로 출력되는 IV 곡선을 제출하면 된다. 이때 TEST 회로는 Latch-up TEST 회로와 동일하지만 ESD는 Transient Signal이기 때문에 Latch-up TEST 구성에서 조금 변형이 필요하다.[[https://www.embeddedcomputing.com/technology/analog-and-power/fundamentals-of-hbm-mm-and-cdm-tests|Latch-up TEST 회로도]] || '''MODEL''' || '''R''' || '''L''' || '''C''' || '''V,,ESD,,''' || || HBM || 1.5kΩ || 750nH || 100pF || >= 2kV || || MM || 20Ω || 750nH || 200pF || >= 100 ~ 200V || || CDM || 20Ω || 5nH || 2 ~ 10pF || >= 200 ~ 1kV ||저장 버튼을 클릭하면 당신이 기여한 내용을 CC-BY-NC-SA 2.0 KR으로 배포하고,기여한 문서에 대한 하이퍼링크나 URL을 이용하여 저작자 표시를 하는 것으로 충분하다는 데 동의하는 것입니다.이 동의는 철회할 수 없습니다.캡챠저장미리보기